电子旋转探针的功能和特点
发布时间：
2022-07-19
电子旋转探针是利用这些电子束可以产生的特征X射线技术进行微区成分研究分析的仪器[1]，可用于数据分析薄片中矿物微区的化学组成成分。除了 H、He、Li、Be 等几种较轻的元素，以及 U 之后的元素外，还可以进行定性和定量分析。大量的电子探针使用经过加速和聚焦的极窄电子束作为探针，激发样品中的小区域发射特征X射线，并可以测量X射线的波长和强度。
电子旋转探针是利用这些电子束可以产生的特征X射线技术进行微区成分研究分析的仪器，可用于数据分析薄片中矿物微区的化学组成成分。除了 H、He、Li、Be 等几种较轻的元素，以及 U 之后的元素外，还可以进行定性和定量分析。大量的电子探针使用经过加速和聚焦的极窄电子束作为探针，激发样品中的小区域发射特征X射线，并可以测量X射线的波长和强度。对微区的元素进行定性或定量分析。
电子旋转探针的功能和特点
电子旋转探针可以定性或定量分析样品中微小区域（微米）的化学成分。可以执行点扫描、线扫描(获取层组成分布信息)和区域扫描分析(获取组成表面分布图像)。还可自动进行批量定量分析（9999个预设测试点）。由于我国电子探针技术发展具有实际操作快速简便（化学研究分析教学方法比较复杂）、实验数据结果解释直观、分析时不损坏样品、测量精度高等优点，因此广泛应用于冶金、地质、电子材料、生物学，广泛应用于医学、考古等领域，是矿物测试分析和样品成分分析的重要工具。
电子旋转探针的主要用途
电子旋转探针也被称为微区 X 射线光谱仪和 X 射线微分析仪。其原理是用聚焦的高能提高电子束轰击产生固体材料表面，使被轰击的元素激发出一个特征X射线，根据其波长和强度对固体物质表面微区进行研究定性和定量的化学问题分析。它主要用于分析固体物质表面的小颗粒或小区域，最小直径约为1 μ m。分析的元素应用范围从原子不同序数 3（锂）到 92（铀）。绝对量可以是10-14到10-15克。近年来形成了一个扫描进行电镜和显微分析仪的组合控制装置，可以在观察微区形貌的同时，逐点比较分析研究样品的化学组成成分和结构。广泛应用于地质、冶金材料、水泥熟料研究等领域。
电子旋转探针的结构特征
电子控制探针X射线显微分析仪（简称中国电子设备探针）利用1 Pm左右的细聚焦电子束可以激发企业样品材料表面微区元素的特征X射线，进行微区化学教师根据不同特征 X 射线的波长和强度。成分的定性或定量分析。电子探针的光学系统、真空系统和其他部分基本上与扫描电子显微镜相同，通常装有二次电子和背散射电子信号探测器。电子探针的组成除结构上与扫描电镜结果相似的主机信息系统外，主要内容包括通过分光系统、检测管理系统等部分。
电子旋转探针主要由电子光学系统（镜筒）、X射线光谱仪和信息记录显示系统组成。电子探针和扫描电子显微镜在电子光学系统中具有基本相同的结构，往往组合成一个单一的仪器。
